[发明专利]三碘化物离子作为荧光剂的应用以及检测有机发光显示薄膜封装层超微裂缝的方法有效
| 申请号： | 202010140852.6 | 申请日： | 2020-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN111303869B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 张南;谢俊明;姚庆鸿;刘兵海;华佑南;李晓旻 | 申请（专利权）人： | 胜科纳米（苏州）股份有限公司 |
| 主分类号： | C09K11/61 | 分类号： | C09K11/61;B82Y30/00;G01N21/64;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 边人洲 |
| 地址： | 215124 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及三碘化物离子作为荧光剂的应用以及检测有机发光显示薄膜封装层超微裂缝的方法。本发明提供的检测有机发光显示薄膜封装层超微裂缝的方法，以三碘化物离子作为荧光物渗透到超微裂缝里，通过荧光观察来检测有机发光显示薄膜封装层的裂缝缺陷。本发明提供的检测有机发光显示薄膜封装层超微裂缝的方法，以三碘化物离子作为荧光物渗透到超微裂缝里，通过荧光观察来检测有机发光显示薄膜封装层的裂缝缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 碘化物 离子 作为 荧光 应用 以及 检测 有机 发光 显示 薄膜 封装 层超微 裂缝 方法 | ||
【主权项】：
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