[发明专利]阻变式存储器以及阻变式存储器的制造方法在审

专利信息
申请号: 202010150656.7 申请日: 2020-03-06
公开(公告)号: CN111384239A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 康赐俊;沈鼎瀛;刘宇;邱泰玮;王丹云 申请(专利权)人: 厦门半导体工业技术研发有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 张洋
地址: 361008 福建省厦门市软件*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种阻变式存储器以及阻变式存储器的制造方法,其中,阻变式存储器包括顶电极、底电极层和阻变层,所述阻变层夹设在所述顶电极和底电极层之间,所述阻变层为金属氧化物层或固态电解质层,所述底电极层包括底电极本体和介电层,所述底电极本体呈锥形,所述锥形的尖端朝向所述阻变层并位于设定位置处,所述介电层包覆所述底电极本体以支撑所述阻变层。本发明可提高阻变式存储器的使用效果。
搜索关键词: 阻变式 存储器 以及 制造 方法
【主权项】:
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