[发明专利]磁头的评价方法以及磁头的评价装置有效
| 申请号： | 202010160041.2 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN112151075B | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 首藤浩文;成田直幸;永泽鹤美;高岸雅幸;前田知幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/31 | 分类号： | G11B5/31 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 万利军;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供能够评价振荡频率的磁头的评价方法以及磁头的评价装置。根据一个实施方式，磁头的评价方法包括：实施向包括电流路径的磁头施加了交流磁场时的所述电流路径的电特性的测定，该电流路径包括振荡器。所述评价方法包括：基于所述电特性来实施关于所述振荡器的振荡频率的频率值的导出。 | ||
| 搜索关键词： | 磁头 评价 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社，未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010160041.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：光学镜头及头戴式显示装置
- 下一篇：显示装置、图像处理装置以及记录媒体
