[发明专利]利用金属载盘进行芯片自动化测试分类的方法及系统在审
| 申请号： | 202010169628.X | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN111346838A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 阙石男 | 申请（专利权）人： | 苏州艾方芯动自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙) 32268 | 代理人： | 严明 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种利用金属载盘进行芯片自动化测试分类的方法及系统，所述系统是在机台上分布着预备区、检查区、预温区、测试运作区、回温区、分检区及干燥室，其中预温区、测试运作区、回温区是位于干燥室内，所述方法由一金属载盘承载着多个芯片依序经机台上之预备区、检查区、预温区、测试运作区、回温区及分检区，让承载着多个芯片的金属载盘以直接接触的控温方式，配合自动化机构的运作，让芯片在不同角度的状态下，完成芯片的三温(高温、室温及低温)及高压的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 金属 进行 芯片 自动化 测试 分类 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州艾方芯动自动化设备有限公司，未经苏州艾方芯动自动化设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010169628.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种宣纸造纸帘的制作方法
- 下一篇：汽车天窗机械组件
