[发明专利]AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010171312.4 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN111476758B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 肖君军;刘强;马昱;刘彧尘;周武超 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学（深圳）（哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院） |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T7/11;G06T5/30 |
| 代理公司： | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人： | 张宏杰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及显示屏技术领域，提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该AMOLED显示屏的缺陷检测方法包括：获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；提取待测图像中的目标区域图像；对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；根据种子点与预设阈值得到目标AMOLED显示屏的缺陷位置。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。 | ||
| 搜索关键词： | amoled 显示屏 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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