[发明专利]执行半导体动态和静态测试的方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202010200347.6 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111426929A | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 朱楠;辛纪元;潘伟杰;张乐;向礼 | 申请（专利权）人： | 致瞻科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;刘兵 |
| 地址： | 201304 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施方式提供一种执行半导体动态和静态测试的方法、装置及存储介质，属于半导体的测试技术领域。所述装置包括：母线电容；第一可控开关；负载电感切换模块；第二可控开关；第一信号使能模块；第二信号使能模块；上位机，与所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块连接，用于控制所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块的工作以完成所述动态和静态测试。该方法、装置及存储介质通过采用同一套设备同时实现半导体的动态测试和静态测试操作，解决了现有技术中存在的执行动态测试和静态测试需要两套设备的技术问题，提高了半导体测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 执行 半导体 动态 静态 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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