[发明专利]用于生成输入/输出性能度量的技术在审
| 申请号： | 202010206137.8 | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN112115080A | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | G·M·德朗;P·陆 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F13/20 | 分类号： | G06F13/20 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 李炜;黄嵩泉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 集成电路包括用于生成输入/输出(I/O)等待时间度量的技术。集成电路包括实时时钟(RTC)、读取测量寄存器和读取等待时间测量模块。读取等待时间测量模块包括用于执行包括以下步骤的操作的控制逻辑：(a)响应于接收到完成与I/O设备相关联的读取请求的读取响应，至少部分地基于来自RTC的针对读取请求的发起和完成的时间测量来自动计算针对完成的读取请求的读取等待时间；(b)至少部分地基于完成的读取请求的所计算的读取等待时间来自动计算针对完成的读取请求的平均读取等待时间；以及(c)自动更新读取测量寄存器以记录针对完成的读取请求的平均读取等待时间。描述并要求保护其他实施例。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生成 输入 输出 性能 度量 技术 | ||
【主权项】：
暂无信息
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