[发明专利]检查装置及检查方法在审
| 申请号： | 202010226919.8 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN111751623A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 高桥正 | 申请（专利权）人： | 日本电产理德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种容易减少开关的数量的检查装置及检查方法。检查装置包括：多个供给开关对(44)，包括与电源部(42)连接的正供给开关(Fp)及负供给开关(Sp)；多个检测开关对(45)，包括与检测部(43)连接的正检测开关(Sp)及负检测开关(Sm)；供给探针(P)，经由正供给开关(Fp)及负供给开关(Fm)而与电源部(12)连接；检测探针(P)，经由正检测开关(Sp)及负检测开关(Sm)而与检测部(43)连接；以及检查处理部(5)；并且检查处理部(5)将正供给开关(Fp1)、负供给开关(Fm3)、正检测开关(Sp2)及负检测开关(Sm4)导通，并且基于由检测部(43)所检测的检测电压(V)来进行接片端子(104)的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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