[发明专利]存储器测试方法有效
| 申请号： | 202010228553.8 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN113450866B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 戴杨阳 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人： | 孙佳胤;高翠花 |
| 地址： | 230001 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。本发明优点在于，将数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系形成数据库，在进行测试时，可直接依据数据库的记录获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试，从而使得没有自动跟踪功能的测试设备也能够准确地获得测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
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