[发明专利]一种存储器感应电压测试电路及测试方法有效
| 申请号： | 202010235552.6 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN111354414B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 王颀;王中波;刘飞;杜智超;霍宗亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李婷婷 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种存储器感应电压测试电路及测试方法，所述测试电路包括电压传输模块，利用页缓冲器中的SO节点的电压即为锁存器的第二输入端的翻转电压，再基于锁存器的对称性，等价到锁存器第一输入端rst_sa_latch节点上的电压，最后利用电压传输模块，在测试时，将电压传输模块的第一输入端电压传输至锁存器的第一输入端，从而测试得到电压传输模块的第一输入端电压即可得到翻转电压大小。即利用电压传输模块的第一输入端电压传输到锁存器的第一输入端上，进而测试翻转电压，实现SO节点的实际翻转电压大小的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 感应 电压 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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