[发明专利]一种老化测试座及老化测试装置在审
| 申请号： | 202010245210.2 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111308323A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 季广华;王坚 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于半导体技术领域，公开了一种老化测试座及老化测试装置。该老化测试座包括：底座机构；压接机构，其设置于底座机构上，压接机构被配置为承载待测试工件并能够分别电连接于待测试工件和PCB板；翻盖机构，翻盖机构转动设置于底座机构上并与其可拆卸连接；压头机构，其转动设置于翻盖机构上并能够抵接于待测试工件的顶面，压头机构被配置为相对于待测试工件的位置可调，使得压头机构的底面和待测试工件的顶面相互平行设置。该老化测试座的压头机构可以根据待测试工件的位置进行自我位置调节，以达到适应待测试工件的目的，避免出现压头机构在测试过程中损伤待测试工件的情况，保证了成品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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