[发明专利]均一性计算方法、装置、控制器及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010247250.0 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN111430577B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 李少方 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56;H01L21/66
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 徐世俊
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了均一性计算方法、装置、控制器及存储介质,用于获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性,标准显示面板和目标面板的区别为:标准显示面板的像素通过蒸镀形成,目标显示面板的像素通过喷墨形成,方法包括:获取标准显示面板的亮度值;根据标准显示面板的亮度值,对目标显示面板进行调整,直至目标显示面板的亮度值和标准显示面板的亮度值相同;获取标准显示面板中的发光区域的第一参数信息和目标显示面板中的发光区域的第二参数信息;根据第一参数信息和第二参数信息,获取目标显示面板相对于标准显示面板的发光均一性。此方案可以量化目标显示面板的发光均一性,以为喷墨打印成膜均一性调试以及分析OLED器件性能提供数据参考。
搜索关键词: 均一 计算方法 装置 控制器 存储 介质
【主权项】:
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