[发明专利]一种硅溶胶中二氧化硅颗粒的致密度的表征方法有效
| 申请号： | 202010264214.5 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111474084B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 李博;仵靖 | 申请（专利权）人： | 河北科技大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N9/00;G01N15/08 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 050000 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： |
本发明涉及硅溶胶制备技术领域，具体公开一种硅溶胶中二氧化硅颗粒的致密度的表征方法。所述表征方法，包括以下步骤：a、用甲基红溶液作为吸附剂，通过溶液吸附法测定得到二氧化硅颗粒的比表面积S |
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| 搜索关键词： | 一种 硅溶胶 二氧化硅 颗粒 致密 表征 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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