[发明专利]一种倒装产品开路分析方法在审

专利信息
申请号: 202010267107.8 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN113495122A 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 徐俏蕾;张伟 申请(专利权)人: 海太半导体(无锡)有限公司
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00;G01N23/00;G01N1/32
代理公司: 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 代理人: 赵华
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明的目的在于提供一种倒装产品开路分析方法,用于查找不良率的分本原因,并提供有效对策;包括以下步骤:S1:通过X‑Ray设备无损判定样品内部Bump焊接状态;S2:对样品进行研磨,抛光处理;S3:通过对样品进行P‑Grinding能够发现导致焊接不良的异物质颜色,形状,尺寸,可以确认FM颜色,形状,尺寸;S4:对异物质成分进行分析,明确异物质的来源可能;本发明的有益效果为:通过创新分析方法,直接找到导致不良的原因和现象;不良来源查找,有效杜绝再发生,降低不良,提高品质。
搜索关键词: 一种 倒装 产品 开路 分析 方法
【主权项】:
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