[发明专利]基于氧化应激指标计算双相障碍发病风险概率的方法在审
| 申请号： | 202010268632.1 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111462899A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 方贻儒;陈俊;牛志昂;吴晓慧;阳璐;朱云程 | 申请（专利权）人： | 上海市精神卫生中心（上海市心理咨询培训中心） |
| 主分类号： | G16H50/20 | 分类号： | G16H50/20;G16H50/30;G16H50/70 |
| 代理公司： | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 | 代理人： | 于晓菁 |
| 地址： | 200030 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及临床医学精神病学判断技术领域，具体的讲是基于氧化应激指标计算双相障碍发病风险概率的方法，首先预处理模块获取氧化应激指标数据集，并根据性别进行分组；其次数据‑分数处理模块对每一项数据进行分数化处理，获得数据‑分数表；然后分数整合模块进行分数求和计算，将求和结果传输到概率换算模块，进行总分‑概率换算处理，获得双相障碍发病风险概率值，本发明可以直接利用常规临床检测指标对患者进行双相障碍的早期识别，可以直观的看到患者的发病风险，从而缩短诊疗时间，提高了工作效率和诊疗方案的准确性，而且本发明使用简单，可以实现患者的自我分流，提高治疗依从性，改善疾病预后。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 氧化 应激 指标 计算 障碍 发病 风险 概率 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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