[发明专利]X射线成像设备的几何校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010307209.8 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN111544020B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 李洋 申请(专利权)人: 北京东软医疗设备有限公司;东软医疗系统股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 刘秀玲
地址: 100193 北京市海淀区西*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种X射线成像设备的几何校正方法及装置。本发明实施例通过利用X射线成像设备采集基础角度下校正体模的第一X光图像,以及采集当前角度下所述校正体模的第二X光图像,根据所述第一X光图像,获取所述基础角度对应的基础映射参数值,根据所述基础映射参数值和当前角度,确定当前角度对应的参考映射参数值,基于所述参考映射参数值和所述第二X光图像,获取当前角度下所述X射线成像设备采集的三维体数据与二维投影图像的目标映射关系,能够实现在空间中任意角度下对三维体数据与二维投影图像的映射关系的几何校正。
搜索关键词: 射线 成像 设备 几何 校正 方法 装置
【主权项】:
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