[发明专利]采样率校正方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010313012.5 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN111443641B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 王鹏;伍致荣 | 申请（专利权）人： | 英华达（上海）科技有限公司;英华达（上海）电子有限公司;英华达股份有限公司;英华达（南昌）科技有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042;A61B5/318;A61B5/00 |
| 代理公司： | 上海隆天律师事务所 31282 | 代理人： | 夏彬 |
| 地址： | 201114 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种采样率校正方法、系统、设备及存储介质，所述方法包括：统计一个校正周期内的采样点数量，计算一个校正周期内的采样时间；根据该校正周期开始时和结束时校正计时器的计时确定校正时间；根据所述采样时间和校正时间确定该校正周期内的采样偏差；根据所述采样偏差的值对采样数据进行校正。本发明无需修改或增加硬件电路，经过采样率校正，改善了采样时所产生的时间偏差，提高了采样精度，经过实验证明可以大大提升采样率的准确性并且稳定无漂移，该方法可以适应于不同晶片的差异性，能够在保证采样数据的精度的同时也保证数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 采样率 校正 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英华达（上海）科技有限公司;英华达（上海）电子有限公司;英华达股份有限公司;英华达（南昌）科技有限公司，未经英华达（上海）科技有限公司;英华达（上海）电子有限公司;英华达股份有限公司;英华达（南昌）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010313012.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种智能坐便机器人
- 下一篇：一种针对大气污染过程的定量解析方法和系统
