[发明专利]电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法、装置以及系统

摘要

本发明公开了一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法，包括扫描采集盖板图像，获得二值化图像；提取二值化图像中的功能孔轮廓的像素点；将功能孔轮廓线上的像素点按照预定线段拟合，获得轮廓拟合线，判断功能孔轮廓线和轮廓拟合线不重合部分的像素坐标差值是否大于预设差值，若是，则功能孔轮廓线和轮廓拟合线不重合部分为盖板的功能孔存在缺陷的位置。本申请中对盖板的二值化图像中功能孔的轮廓像素点进行拟合，通过盖板的轮廓线和轮廓拟合线的像素点重合情况确定功能孔是否存在缺陷，提高了对功能孔缺陷检测的精度，进而提高电子设备的质量。本申请还提供了一种电子设备盖板上功能孔的缺陷检测装置和系统，具有上述有益效果。