[发明专利]参数校准方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 202010331213.8 | 申请日： | 2020-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111625025B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 黄友林 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G05D3/20 | 分类号： | G05D3/20 |
| 代理公司： | 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 | 代理人： | 范胜祥 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种参数校准方法、装置、存储介质及电子设备，其中，方法包括：获取升降机构当前在上升至第一终点处的第一目标霍尔值和/或所述升降机构当前在下降至第二终点处的第二目标霍尔值，获取所述升降机构上一次在上升至第三终点处的第一参考霍尔值和/或所述升降机构上一次在下降至第四终点处的第二参考霍尔值，当所述第一目标霍尔值与所述第一参考霍尔值不匹配，和/或所述第二目标霍尔值与所述第二参考霍尔值不匹配时，对所述第一参考霍尔值和/或所述第二参考霍尔值进行校准。采用本申请实施例，可以提高参数校准的自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 校准 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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