[发明专利]偏光膜整线打标系统及方法有效
申请号: | 202010337720.2 | 申请日: | 2020-04-26 |
公开(公告)号: | CN111452514B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 陈礼诚;朱兆杰;潘英东;毕小东;王勇;任涛涛;金若安;孙浩益;曾兵兵;程岩;吴小华;吴群策;孟佳 | 申请(专利权)人: | 杭州利珀科技有限公司 |
主分类号: | B41J3/407 | 分类号: | B41J3/407;B41J3/01;B41J29/393;G01N21/89 |
代理公司: | 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 | 代理人: | 顾俊超 |
地址: | 311305 浙江省杭州市临安区青山*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开偏光膜整线打标系统及方法,用于偏光膜生产线中,包含有,延伸复合段打标装置,其具有第一自动光学检测单元、二维码喷码机及第一解码器;涂布前段打标装置,其具有第二自动光学检测单元及第二解码器;以及,涂布后段打标装置,其具有第三自动光学检测单元、第三解码器及打标机。本发明的有益效果在于:具有缺陷检测精度高的特点。隔段打标精度高。能够准确地确定膜缺陷所在的具体层位置。并且根据膜缺陷的形成位置、范围程度等,判断偏光膜的成型质量,方便后端裁切剔除不良。 | ||
搜索关键词: | 偏光 膜整线打标 系统 方法 | ||
【主权项】:
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