[发明专利]一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统在审
| 申请号： | 202010340883.6 | 申请日： | 2020-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN111552599A | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;彭骞 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/48 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 罗飞 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统，其中的分布式进程处理系统包括：一级节点管理模块，用以管理一级节点，并存储与一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，每一个二级节点上包括多个测试单元；多个二级节点管理模块，用以管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系，其中，每一个测试进程对应一个测试单元，并用以运行测试单元的测试实例。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分布式 进程 处理 系统 半导体 老化 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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