[发明专利]一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法有效
| 申请号： | 202010348873.7 | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN111487274B | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 久博;黄文辉;李媛;何明倩;孙启隆 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N23/2254 | 分类号： | G01N23/2254;G01N23/2202;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/90 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 许云慧 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法，包括：S100、采用阴极射线照射目标砂岩，得到保存有胶结作用特征的阴极发光图像；S200、对得到的阴极发光图像采用Matlab处理，在对阴极发光图像中各类胶结物的像素和色彩进行保留的前提下进行图像二值化处理，得到能够被Matlab识别的二值图像；S300、通过能够对胶结物区域进行识别的函数对胶结物区域进行输出，对输出的各类胶结物区域进行定量计算。本发明通过对目标砂岩采集阴极发光图像，并通过二值化处理后，对识别出的胶结物区域进行输出和定量计算来解决人为叠加测距不仅偏差大，且工作量巨大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 阴极 发光 技术 次生 加大 定量 计算方法 | ||
【主权项】：
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