[发明专利]嵌入式闪存失效的筛选方法在审
| 申请号： | 202010353707.6 | 申请日： | 2020-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN111489784A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C16/34 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种嵌入式闪存失效的筛选方法，包括提供嵌入式闪存；在片擦除操作的数据擦除模式下，通过监控嵌入式闪存的控栅端的电压值变化，判断嵌入式闪存是否失效；当控栅端的电压值大于参考值时，判断嵌入式闪存的位线与控栅之间存在虚短路现象，以判定嵌入式闪存失效；当控栅端的电压值等于参考值时，判断嵌入式闪存的位线与控栅之间不存在虚短路现象，以判断嵌入式闪存有效。本发明能够快速检测嵌入式闪存是否失效，判断周期短，提高了筛选效率。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 闪存 失效 筛选 方法 | ||
【主权项】：
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