[发明专利]一种频综综合测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202010360717.2 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111505593B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 李玉爽;陈利彬;杜强燚;徐超;聂涛 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 厉洋洋 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种频综综合测试系统及测试方法。测试系统包括：PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器；同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接，其同步信号输出端与网络数传组件和至少一种测试仪器连接；网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接；开关阵列组件的输入端与待测频综的测试端口连接，其输出端与至少一种测试仪器连接；至少一种测试仪器通过路由器与所述PXI控制器连接。本发明实施例提供的频综综合测试系统可实现待测频综的自动化同步测试，保证测试结果的准确性和可靠性，大大提高了测试效率，缩减了测试时间，降低了人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 综合测试 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
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