[发明专利]gamma调试方法和装置有效
| 申请号： | 202010390093.9 | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN111551348B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 周天朕;张小宝;王峥;陈心全;高瀚斐 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G09G3/00;G09G3/3208 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张娜;刘芳 |
| 地址： | 215300 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种gamma调试方法和装置，该方法通过待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点的前一绑点的RGB测量值，确定目标绑点对应的RGB调整值，进而，根据上述RGB测量值和RGB调整值，确定目标绑点的电压，根据该目标绑点的电压，对待调试OLED模组进行gamma调试，从而解决现有针对低灰阶绑点调试产生的低灰阶断层问题，而且，本申请实施例调试过程简单，低灰阶绑点采用上述方法调试，高灰阶绑点采用现有光学设备自动调节，无需变更gamma调试架构，可以有效提高产线直通率，缩减tact time，满足显示及大规模量产需求。 | ||
| 搜索关键词： | gamma 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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