[发明专利]电子部件处理设备用检查装置在审
| 申请号： | 202010392119.3 | 申请日： | 2020-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN112014410A | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 金熙泰;朴东珉;赵奉辰 | 申请（专利权）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 习瑞恒;李盛泉 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子部件处理设备用检查装置。根据本发明，在拍摄的图像中，利用从预定采样区域提取的明度数据检查电子部件的不良与否，进而利用从其他采样区域提取的明度数据检查电子部件的安置状态。根据本发明，也可以通过线性光确认电子部件自身的不良，尤其可以结合判断电子部件自身的不良的构成与判断电子部件的安装状态的构成而将两种作业并行，因此提高了处理的效率性和生产率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 处理 备用 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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