[发明专利]测量微丸各组分层厚度的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010396521.9 申请日: 2020-05-12
公开(公告)号: CN111504977A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 程菊红;伍凤祥;贺令娟 申请(专利权)人: 湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01B11/06
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 郭立中;王娟
地址: 410600 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种测量微丸各组分层厚度的方法及系统,取微丸原料药、辅料置于载玻片上制样;选定激光波长、功率等条件对载有样品的载玻片进行拉曼扫描,获取原、辅料拉曼特征图谱;用刀片将微丸切开,对微丸截面进行拉曼面扫描;将原辅料拉曼特征图谱导入面扫描数据并分析,将不同组分用不同颜色标定,形成面扫描组分分布图像,用标尺标在拉曼组分成像图上标注各组分层厚度。该方法能够准确、快速、直观的同时测量对微丸丸心层、上药层、包衣层厚度。本发明成本低,能快速、准确、直观的同时测量丸心层、上药层、包衣层各组分层厚度,且耗时短,测量准确。
搜索关键词: 测量 各组 分层 厚度 方法 系统
【主权项】:
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