[发明专利]一种集成电路测试装置在审
| 申请号： | 202010398482.6 | 申请日： | 2020-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN111624463A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 张健 | 申请（专利权）人： | 通富微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 226000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种集成电路测试装置，包括：测试插座，其第一表面设置有至少一个测试区域，每个测试区域设置有多个测试针，用于与待测集成电路形成通路，以测试待测集成电路的电性参数；至少一个发光元件，每个测试区域对应设置有一个发光元件，且发光元件发出的光线能够从第一表面射出；其中，当测试区域设置有待测集成电路时，发光元件发出的光线被待测集成电路遮挡；当测试区域未设置待测集成电路时，发光元件发出的光线未被待测集成电路遮挡。发光元件在测试区域发出的光被遮挡和未被遮挡这两种情况的对比鲜明，容易分辨，使本申请提供的测试装置能够及时检测出测试插座中未被取走的集成电路，降低集成电路产品误测、误分类的几率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
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