[发明专利]一种双测时模式TDC芯片设计制造在审
| 申请号： | 202010407478.1 | 申请日： | 2020-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN111723539A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 叶茂;戴庆达;赵毅强 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F30/32 | 分类号： | G06F30/32 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 韩新城 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
本发明公开一种双测时模式TDC芯片设计与制造，低功耗模式下，采用抽头延迟线测时电路完成测量，该电路的主体为延迟链，测时结构简单。高精度测量模式下，采用并行斐不拉基延迟线测时电路，该电路由四条延迟链并行构建，各延迟链包含四种不同延时单元，采用斐不拉基构建方案，延时单元由反相器级联而成，通过调整各单元中晶体管的宽长比来调整延时时间。温度对TDC芯片的影响不可忽视，基于前者电路，构造17行s列的矩阵M和M |
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| 搜索关键词： | 一种 测时 模式 tdc 芯片 设计 制造 | ||
【主权项】：
暂无信息
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