[发明专利]非破坏检查装置在审
| 申请号： | 202010439967.5 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN112649448A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 福田贤次郎;篠原正治;半杭秀一 | 申请（专利权）人： | 东芝IT·控制系统株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01B15/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本东京新宿区西新宿六丁*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种提高检查节拍的非破坏检查装置。本发明的非破坏检查装置包括：两个放射线发生器(2)，对具有四个角的被检查物(100)照射放射线束；以及两个放射线检测器(3)，分别与两个放射线发生器(2)相向而设置。放射线束的光轴在被检查物(100)的近前交叉，通过被检查物(100)的四个角中的放射线发生器(2)侧的两个角。 | ||
| 搜索关键词： | 破坏 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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