[发明专利]同步动态随机存储器测试方法和装置在审
申请号: | 202010444208.8 | 申请日: | 2020-05-22 |
公开(公告)号: | CN111627490A | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 杨超;孙海年;徐建;方伟 | 申请(专利权)人: | 浙江大华技术股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 江舟 |
地址: | 310051 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种同步动态随机存储器测试方法和装置。其中,该方法包括:获取预配置的第一测试数据,其中,第一测试数据用于测试同步动态随机存储器SDRAM是否存在连线故障,第一测试数据包括多条测试数据;将第一测试数据写入到SDRAM中,得到第一写入结果;在读取一条第一写入结果,得到一条第一读取结果之后,比对第一读取结果与第一预定输出结果,得到第一统计数据;在第一统计数据大于第一预定阈值的情况下,确定SDRAM出现连线故障。本发明解决了测试SDRAM准确度差的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 同步 动态 随机 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
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