[发明专利]一种含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法有效
| 申请号： | 202010453624.4 | 申请日： | 2020-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN111537534B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 汪小琳;闫冠云;纪和菲;陈杰;孙光爱;夏元华;邹林;史鹏;黄朝强;龚建 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N23/202 | 分类号： | G01N23/202 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 张保朝;张晓林 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法。该方法包括如下步骤：首先将待测金属样品装入反应腔，然后向腔体内通入氢气/氘气，在该过程中同时开展小角中子散射测试，对小角散射实验数据进行处理并获得绝对强度散射曲线，通过绝对散射强度增加的时间可以判断氢化物形核的临界点。本发明的含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法提供了一种灵敏的初始氢化物形核测量方法，可用于真实金属材料(表面含氧化层、损伤、杂质等)表面氢化反应评估。本发明观测的含表面氧化层的金属氢化物形核是实际金属氢化反应的关键过程，可用于金属抗氢腐蚀性能评估，储氢材料活化流程优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 氧化 金属 氢化物 分析 方法 | ||
【主权项】：
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