[发明专利]一种IC封装装片工艺中框架状态管理方法和系统在审
申请号: | 202010462100.1 | 申请日: | 2020-05-27 |
公开(公告)号: | CN111653505A | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 徐祖峰;丁小果;刘静 | 申请(专利权)人: | 南京泰治自动化技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G06K7/14 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 常虹 |
地址: | 210012 江苏省南京市雨花*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种IC封装装片工艺中框架状态管理方法和系统,其中管理方法包括:装片机台作业前:确定工序并保存;确定批次号,在所有框架上打上二维码;建立工序、批次号和框架上二维码的绑定关系;装片机台扫描框架上的二维码,获取当前工序;确认当前工序所需机型为装片机台,获取当前框架的状态数据;装片机台进行作业;装片机台作业后,生成框架中所有产品的状态数据;再次获取当前工序;确认当前工序所需机型为装片机台;确认作业前后获取的当前工序是否一致,如不一致,则当前框架有提前过账;如一致,修改当前框架状态数据中的产品状态数据,并修改当前框架作业状态为当前工序已完成。该方法能够对装片工艺中的提前出账进行卡控,以及实现产品的追溯。 | ||
搜索关键词: | 一种 ic 封装 工艺 框架 状态 管理 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京泰治自动化技术有限公司,未经南京泰治自动化技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010462100.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自动档案提取系统
- 下一篇:一种信息采集系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造