[发明专利]基于辐照器系统的检测方法在审
| 申请号： | 202010463711.8 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111551980A | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 金孙均;王坤;杨小元;王志鹏 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人： | 戴燕 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于辐照器系统的检测方法，包括：将电离室设置于电离室调节装置上；当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于打开位置时，或者，当供电模块处于断电状态时，第二电机带动转鼓组件进行转动，放射源的束流被停束；当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于关闭位置时，电机带动转鼓组件进行转动，对球面状的束流进行出束控制；当出束时，通过主体和转鼓对球面状的束流进行第一屏蔽，再通过光阑对第一屏蔽后的束流进行第二屏蔽；第二屏蔽后的束流对电离室内的空气发生电离，产生电离电流；对电离电流进行检测，得到电离电流值。由此，提高了检测的精度以及检测的可操控性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 辐照 系统 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院，未经中国计量科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010463711.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种架空线路振动模拟检测装置
- 下一篇：一种电路板电气元件焊接装置
