[发明专利]缺陷检测方法以及装置有效
| 申请号： | 202010481841.4 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN111624200B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 陈威宪 | 申请（专利权）人： | 苏州精濑光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215124 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种缺陷检测方法以及装置，该方法包括：通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理，分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型；当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时，确定相应两条缺陷线的目标交点位置；基于所述目标交点位置，确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型。本发明实施例的技术方案，解决了现有技术中仅是根据缺陷线的数量和缺陷线之间的距离来判断十字线缺陷类型时，存在判断不准确的技术问题，实现了便捷、准确的确定十字线缺陷类型的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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