[发明专利]一种显示面板不良的解析方法及装置有效
| 申请号： | 202010488823.9 | 申请日： | 2020-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN111679460B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 张巧飞;蔡荣茂;庄益壮;张小新 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 徐世俊 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 不良 解析 方法 装置 | ||
【主权项】：
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