[发明专利]一种逸出功的测量方法及装置有效
| 申请号： | 202010494892.0 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN111638194B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 陈智学;陈建明;陈志宽;黄维 | 申请（专利权）人： | 宜兴凡远光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 214222 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种逸出功的测量方法及装置。所述逸出功的测量方法包括：分别获取波长为λ1、λ2……λn的同类单色光的光子数Np1、Np2……Npn；分别获取波长为λ1、λ2……λn的同类单色光作用于待测样品上后产生的光电子数Ne1、Ne2……Nen；根据所述光子数Np1、Np2……Npn以及所述光电子数Ne1、Ne2……Nen，获得所述待测样品的材料的逸出功；其中，n≥3，且n为正整数。本发明实施例提供的技术方案，实现了材料逃逸出功的低成本、低难度、高效率、高稳定性和高准确性的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 逸出功 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宜兴凡远光电科技有限公司，未经宜兴凡远光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010494892.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种现浇空心楼板的多支柱抗浮箱体
- 下一篇：高炉冷却壁水管泄漏在线修复方法
