[发明专利]双面电容结构及其形成方法有效
| 申请号： | 202010498454.1 | 申请日： | 2020-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN113764580B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 陆勇 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | H10N97/00 | 分类号： | H10N97/00;H10B12/00 |
| 代理公司： | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人： | 孙佳胤;陈丽丽 |
| 地址： | 230001 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种双面电容结构及其形成方法。所述双面电容结构的形成方法包括如下步骤：提供基底；形成叠层结构于所述基底上；沿垂直于所述基底的方向形成电容孔贯穿所述叠层结构，所述叠层结构包括交替叠置的牺牲层和支撑层；形成辅助层覆盖于所述电容孔侧壁；形成第一电极层覆盖所述辅助层表面；去除所述叠层结构顶部的部分所述支撑层，以形成开口暴露所述牺牲层；沿所述开口同时去除所述牺牲层和所述辅助层，以形成空隙于所述支撑层和所述第一电极层之间；形成覆盖于所述第一电极层表面的电介质层、以及覆盖于所述电介质层表面的第二电极层，所述空隙内至少填充有所述电介质层。本发明能够提高双面电容结构的横向稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 双面 电容 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】：
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