[发明专利]一种质量测定用电子分析天平有效

专利信息
申请号: 202010500751.5 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN111780837B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 付贤安 申请(专利权)人: 安徽圣仁电子科技有限公司
主分类号: G01G7/02 分类号: G01G7/02;G01G17/00;G01G17/04;G01G21/02;G01G21/22;G01G21/28;G01G23/00
代理公司: 郑州卓豫德鑫知识产权代理事务所(普通合伙) 41201 代理人: 吉飞虎
地址: 233000 安徽省蚌埠市嘉和*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及电子称量设备领域,且公开了一种质量测定用电子分析天平,包括电子分析天平座,电子分析天平座的顶部设有五个密封的玻璃门,所述电子分析天平座顶端的中部设有称量传动的称量联动轴,所述称量联动轴的顶部固定连接有位于电子分析天平座上方的托盘,所述称量联动轴的底端与电子分析天平座内部的称量计量机构连接。该质量测定用电子分析天平,通过与托盘额外联动的辅助托环结构增设,利用辅助托环两侧的半环夹板,便于对盛有液体试剂的圆底烧瓶或试管夹持进行质量测定,无需将圆底烧瓶和液体试剂转移至烧杯,再利用烧杯放置在托盘上进行质量测定,减少了液体试剂的称量步骤,提高了液体试剂的称量效率。
搜索关键词: 一种 质量 测定 用电 分析 天平
【主权项】:
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