[发明专利]一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置在审
| 申请号： | 202010502410.1 | 申请日： | 2020-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN111562485A | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 余超;李晨霖 | 申请（专利权）人： | 无锡湖山智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，涉及抗老化测试设备技术领域，解决了新手操作人员前几次因遗忘需要静置10‑20分钟散热的问题，导致其打开箱门时，高温的热量迅速排出，对新手操作人员手部及手臂造成灼伤的问题。一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，包括高温老化试验箱，所述高温老化试验箱箱体前端面相邻箱门右下方部位转动安装有矩形限位板。通过该定时器的启动、箭头标识指向标识牌的设计，对操作人员起到提醒效果，避免其遗忘需要静置等待降温的操作步骤，从而有效的避免操作人员被高温灼伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 北斗 导航 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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