[发明专利]热阻测量装置及方法在审
| 申请号： | 202010510089.1 | 申请日： | 2020-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN111521263A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 陈展耀;戴书麟;刘风雷 | 申请（专利权）人： | 浙江水晶光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J9/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 崔熠 |
| 地址： | 318000 浙江省台州市椒*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种热阻测量装置及方法，属于光电技术领域。热阻测量装置，用于测量激光模组的热阻，包括：温度控制器、光功率计以及波长测量仪；温度控制器的工作面用于设置激光模组并控制其温度，激光模组具有出光方向分别朝向光功率计和波长测量仪的第一状态和第二状态，光功率计用于测量激光模组的出光功率，波长测量仪用于测量激光模组的出光波长。本发明的目的在于提供一种热阻测量装置及方法，能够简便快速的对激光模组的热阻进行测量，以用于评价激光模组的散热性能。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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