[发明专利]一种降低寄生电容的MOS电容及优化方法在审

专利信息
申请号: 202010546600.3 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN111883596A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 刘新宁;潘家驹 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94;H01L27/02
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 叶涓涓
地址: 211189 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种降低寄生电容的MOS电容和降低MOS电容寄生电容的优化方法,在MOS电容N‑阱接触与偏置电压Vbias之间接入一高阻抗Z,使N‑阱到P‑衬底之间较小的电容等效串联入寄生电容(主要为沟道至N‑阱之间的电容),从而降低MOS电容的总寄生电容,解决了MOS电容在开关电容等应用场景中寄生过大的问题。通过本发明提供的技术方案,MOS电容的寄生因子由10%‑20%减小至1%‑2%,降低了MOS电容的寄生电容,增加了MOS电容的有效电容密度。采用这种优化后的MOS电容能够节省电路面积,降低成本,提高电路性能。对于具体的开关电容转换器来说,能够提高电路的转换效率。
搜索关键词: 一种 降低 寄生 电容 mos 优化 方法
【主权项】:
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