[发明专利]缺陷检测系统、方法及图像采集系统在审

专利信息
申请号: 202010548840.7 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111693546A 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 刘坚;姜潮;莫杰;胡芮嘉;邹德祥;张航;杨德志;索鑫宇;李蓉;陈宁 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 北京思睿峰知识产权代理有限公司 11396 代理人: 谢建云;赵爱军
地址: 410082*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种缺陷检测系统,包括:料台,布置在水平方向,适于放置一个或多个待检测芯片;水平移动滑台,与料台连接,适于带动料台水平运动,以便带动待检测芯片移动至预定位置进行图像采集;第一相机,布置在料台上方,且第一相机的轴线位于竖直方向,第一相机适于采集芯片的第一图像;第二相机,布置在料台上方,且第二相机的轴线位于与水平方向呈预定夹角的预定方向,第二相机适于采集芯片的第二图像;计算设备,与第一相机、第二相机相连,适于获取第一相机、第二相机采集的第一图像、第二图像,基于第一图像、第二图像获取芯片的缺陷信息,并根据缺陷信息确定芯片的损伤状态。此外,本发明还公开了相应的缺陷检测方法和图像采集系统。
搜索关键词: 缺陷 检测 系统 方法 图像 采集
【主权项】:
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