[发明专利]一种适用于大电流测试的探针测试底座

摘要

本发明提供一种适用于大电流测试的探针测试底座，涉及高铁及汽车电子芯片测试领域，该一种适用于大电流测试的探针测试底座，包括基板，基板的上端开设有放置槽，基板的表面开设有固定孔，基板的内壁设置有连接装置，连接装置包括包裹座，包裹座位于基板的内壁，包裹座的表面与基板的内壁固定连接，包裹座的上端插设并固定连接有导筒，导筒的下端固定连接有连接杆，导筒的内壁固定连接有压缩弹簧，压缩弹簧的上端固定连接有导杆。在使用时，将基板与电路板电性连接，将被检测芯片插入放置槽中，检测芯片与导杆相抵，压缩弹簧受力变形产生弹力并扭曲，导杆受力插入导筒中，导杆在压缩弹簧的扭曲下产生偏移并与导筒的内壁相抵。