[发明专利]光束取样器角度特性测量装置及方法有效
| 申请号： | 202010557771.6 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111795802B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 管雯璐;侯再红;谭逢富;秦来安;何枫;吴毅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 合肥兴东知识产权代理有限公司 34148 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 230088 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 光束取样器角度特性测量装置及方法，装置包括按照光路依次设置的激光器、激光处理组件、取样器、激光测量组件，所述取样器和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘上，光路位于转盘圆心的正上方。本发明通过转盘改变取样器激光接收角度，在改变过程中保证光路始终经过取样器的中心，从而使得激光测量组件获得的值更加准确，从而获得更加准确的获得角度特性。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 取样 角度 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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