[发明专利]一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法、瓦楞纸生产控制系统有效
| 申请号： | 202010558825.0 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111724368B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 邱祉海;关飞;蔡旭初;陈兆海 | 申请（专利权）人： | 杭州利鹏科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/77;G06T7/90;G01B11/06 |
| 代理公司： | 浙江专橙律师事务所 33313 | 代理人： | 朱孔妙 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市经济技术开发*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法，用于检测瓦楞纸厚度尺寸是否大于预设的标准厚度；如果瓦楞纸厚度尺寸大于预设的标准厚度，则为认定为次品；如果瓦楞纸厚度尺寸不大于预设的标准厚度，则为认定为本工段的良品；前景色（S‑B1）的颜色值与背景色（S‑B2）的颜色值不同。瓦楞纸生产控制系统，采用所述的一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法，检测瓦楞纸厚度是否超厚。本发明提供了一种检测瓦楞纸品质的新思路；本发明快速、准确、低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 计算机 检测 瓦楞纸 品质 方法 生产 控制系统 | ||
【主权项】：
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