[发明专利]用于制造散射射线准直仪的方法和散射射线准直仪在审

专利信息
申请号: 202010558847.7 申请日: 2020-06-18
公开(公告)号: CN112117022A 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: T·厄格勒;S·维尔特;V·克里斯蒂奇;M·M·科勒斯恩-格雷 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02;G03F7/20
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 赵林琳;张鹏
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于制造散射辐射准直仪(2)的方法,该散射辐射准直仪(2)从下侧(4)开始沿构造方向(6)延伸到上侧(8),散射辐射准直仪(2)具有吸收X射线的壁部(10),并且在散射辐射准直仪(2)中在壁部(10)之间形成用于非散射X射线的贯通通道(12),其中使用光刻工艺,借助于该光刻工艺由混合有X射线吸收材料的光刻胶形成散射辐射准直仪(2)的壁部(10)。
搜索关键词: 用于 制造 散射 射线 准直仪 方法
【主权项】:
暂无信息
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