[发明专利]一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法有效
| 申请号： | 202010573950.9 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN111795984B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 章健;刘梦玮;赵瑾;岛井骏藏;王士维;陈晗;陈鹤拓 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;郑优丽 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法，将具有亚微米级晶粒的陶瓷样品折断后得到新鲜断面，再经热腐蚀或酸腐蚀，得到待观察的陶瓷材料；所述具有亚微米级晶粒的陶瓷样品的断裂方式为完全穿晶断裂或部分穿晶断裂。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 扫描电镜 观察 陶瓷 内部 微观 结构 方法 | ||
【主权项】：
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