[发明专利]用于处理基板的装置和方法在审
申请号: | 202010589986.6 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN112151346A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 全炳建;金铉镇;尹基星;成哓星;安宗焕 | 申请(专利权)人: | 细美事有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01J37/244 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 车今智 |
地址: | 韩国忠清南道天安*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于处理基板的装置和方法,所述装置包括:腔室,在所述腔室中具有处理空间;基板支承单元,其在处理空间中支承基板;气体供应单元,其将气体供应到处理空间中;和等离子体生成单元,等离子体生成单元包括RF电源,所述RF电源施加RF功率,其中等离子体生成单元通过使用RF功率从气体生成等离子体。基板支承单元包括:支承板,其支承基板;和加热单元,其控制基板的温度。加热单元包括:多个加热构件,其设置在支承板的不同区域中;加热器电源,其将功率施加至多个加热构件;滤波器,其防止多个加热构件与RF电源之间的耦合;和检测单元,其设置在多个加热构件与滤波器之间,且检测支承板的各个区域的等离子体特性。 | ||
搜索关键词: | 用于 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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