[发明专利]SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202010613260.1 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN111782446A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 罗发治;郭芳芳;贾宗铭 | 申请(专利权)人: | 深圳忆联信息系统有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 巫苑明 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质;其中,方法,包括:对SSD进行数据随机写操作;向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令,并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b;等待N秒,读取SSD主控配置寄存器关机状态的值;判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b;对SSD进行掉电,并保持掉电状态X秒;对SSD上电初始化;判断SSD上电初始化是否成功;对SSD写入的数据进行数据校验;判断数据校验是否匹配。本发明弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内正确完成主机所下发的正常掉电通知命令,及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷。 | ||
搜索关键词: | ssd 正常 掉电 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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